产品特色

• 搭配烤箱使用，提供烧机测试、可靠度测试与寿命测试
• 支援自动电流控制模式（ACC）与自动电压控制模式（APC）
• 模组化设计提供最大的便利性与便于维护
• 完整的ESD防护
• 独立通道（Channel）驱动与量测
• 双极性电源量测单元
• 独家设计无突波输出
• 最高可达500mA单通道电流驱动

烧机测试、信赖性测试与寿命测试

Chroma   58604C的高密度、多功能，提供雷射二极体老化测试。每个模组可提供高达256个SMU通道，每个通道可透过软体，设定不同的电流值，并量测电压。每个机柜最高 可容纳七层模组，达到1,792个SMU通道。

自动电流/电压控制模式（ACC）

在自动电流/电压控制（ACC/AVC） 模式下，控制电路可提供非常稳定的电流给每个雷射二极体。不管烧机中的雷射二极体有电压或者温度变化，烧机测试期间的供电流将保持 预先设定好的固定值，电压值则会被量测并记录下来作为品质的参考依据。

独立抽屉模组操作

客户可以在不同的模组设定不同的电流条件、操作模式（ACC/AVC）， 以及不同的起始时间与老化期间。模组化独立控制所带来的好处，是提供更多的使用弹性，不同模组可同时测试不同的待测物，并且不产生电性间的干扰。

保护机制可以关闭个别通道

独特的电路设计使本系统可以在烧机的过程完整保护雷射二极体，不会有电流或电压的突波产生，意外造成待测物的伤害。每个通道可设定电流和电压的高/低限制，当触发限 制时，可关闭个别通道以保护待测物。当异常发生时，系统将关闭特定引发异常的通道，其他正常通道可持续正常运作，直到完成预定的任务。除了上述的保护功能外，全通道 的SMU也包含通道绝缘 （Isolation） 与静电 （ESD） 保护，形成完整的隔离防护。

自动断线重连与测试资料复原

烧机测试资料将储存在系统的本地电脑中或指定的远端伺服器。当模组与系统电脑通讯暂时中断时，资料可暂存于模组中达72小时以上(以每3分钟一笔量测资料计算),当通 讯恢复连线之后，暂存于模组中的资料将自动写入系统电脑中或远端伺服器，不会发生资料遗失。

各种不同的雷射封装应用

双极性SMU可应对各种情境

技术参数：